Xenon purity analysis for EXO-200 via mass spectrometry

A. Dobi, C. Hall, S. Slutsky, Y. R. Yen, B. Aharmin, M. Auger, P. S. Barbeau, C. Benitez-Medina, M. Breidenbach, B. Cleveland, R. Conley, J. Cook, S. Cook, I. Counts, W. Craddock, T. Daniels, C. G. Davis, J. Davis, R. Devoe, M. DixitM. J. Dolinski, K. Donato, W. Fairbank, J. Farine, P. Fierlinger, D. Franco, G. Giroux, R. Gornea, K. Graham, G. Gratta, C. Green, C. Hagemann, K. Hall, D. Hallman, C. Hargrove, S. Herrin, M. Hughes, J. Hodgson, F. Juget, A. Karelin, L. J. Kaufman, A. Kuchenkov, K. Kumar, D. S. Leonard, G. Lutter, D. MacKay, R. MacLellan, M. Marino, B. Mong, M. Montero Díez, P. Morgan, A. R. Müller, R. Neilson, A. Odian, K. Osullivan, A. Piepke, A. Pocar, C. Y. Prescott, K. Pushkin, A. Rivas, E. Rollin, P. C. Rowson, A. Sabourov, D. Sinclair, K. Skarpaas, V. Stekhanov, V. Strickland, M. Swift, K. Twelker, J. L. Vuilleumier, J. M. Vuilleumier, M. Weber, U. Wichoski, J. Wodin, J. D. Wright, L. YangShow 56 othersShow less