Xenon purity analysis for EXO-200 via mass spectrometry

A. Dobi, C. Hall, S. Slutsky, Y. R. Yen, B. Aharmin, M. Auger, P. S. Barbeau, C. Benitez-Medina, M. Breidenbach, B. Cleveland, R. Conley, J. Cook, S. Cook, I. Counts, W. Craddock, T. Daniels, C. G. Davis, J. Davis, R. Devoe, M. DixitM. J. Dolinski, K. Donato, W. Fairbank, J. Farine, P. Fierlinger, D. Franco, G. Giroux, R. Gornea, K. Graham, G. Gratta, C. Green, C. Hagemann, K. Hall, D. Hallman, C. Hargrove, S. Herrin, M. Hughes, J. Hodgson, F. Juget, A. Karelin, L. J. Kaufman, A. Kuchenkov, K. Kumar, D. S. Leonard, G. Lutter, D. MacKay, R. MacLellan, M. Marino, B. Mong, M. Montero Díez, P. Morgan, A. R. Müller, R. Neilson, A. Odian, K. Osullivan, A. Piepke, A. Pocar, C. Y. Prescott, K. Pushkin, A. Rivas, E. Rollin, P. C. Rowson, A. Sabourov, D. Sinclair, K. Skarpaas, V. Stekhanov, V. Strickland, M. Swift, K. Twelker, J. L. Vuilleumier, J. M. Vuilleumier, M. Weber, U. Wichoski, J. Wodin, J. D. Wright, L. Yang

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Xenon purity analysis for EXO-200 via mass spectrometry'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Physics

Chemical Engineering

Material Science