Tuning SPT-3G Transition-Edge-Sensor Electrical Properties with a Four-Layer Ti–Au–Ti–Au Thin-Film Stack

  • F. W. Carter
  • , P. A.R. Ade
  • , Z. Ahmed
  • , A. J. Anderson
  • , J. E. Austermann
  • , J. S. Avva
  • , R. Basu Thakur
  • , A. N. Bender
  • , B. A. Benson
  • , J. E. Carlstrom
  • , T. Cecil
  • , C. L. Chang
  • , J. F. Cliche
  • , A. Cukierman
  • , E. V. Denison
  • , T. de Haan
  • , J. Ding
  • , R. Divan
  • , M. A. Dobbs
  • , D. Dutcher
    • W. Everett, A. Foster, R. N. Gannon, A. Gilbert, J. C. Groh, N. W. Halverson, A. H. Harke-Hosemann, N. L. Harrington, J. W. Henning, G. C. Hilton, W. L. Holzapfel, N. Huang, K. D. Irwin, O. B. Jeong, M. Jonas, T. Khaire, A. M. Kofman, M. Korman, D. Kubik, S. Kuhlmann, C. L. Kuo, V. Kutepova, A. T. Lee, A. E. Lowitz, S. S. Meyer, D. Michalik, C. S. Miller, J. Montgomery, A. Nadolski, T. Natoli, H. Nguyen, G. I. Noble, V. Novosad, S. Padin, Z. Pan, J. Pearson, C. M. Posada, A. Rahlin, J. E. Ruhl, L. J. Saunders, J. T. Sayre, I. Shirley, E. Shirokoff, G. Smecher, J. A. Sobrin, L. Stan, A. A. Stark, K. T. Story, A. Suzuki, Q. Y. Tang, K. L. Thompson, C. Tucker, L. R. Vale, K. Vanderlinde, J. D. Vieira, G. Wang, N. Whitehorn, V. Yefremenko, K. W. Yoon, M. R. Young

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Tuning SPT-3G Transition-Edge-Sensor Electrical Properties with a Four-Layer Ti–Au–Ti–Au Thin-Film Stack'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering

Material Science