New measurement of the CP violation parameter +-

J. N. Matthews, P. Gu, P. Haas, W. P. Hogan, S. K. Kim, S. S. Myung, S. Schnetzer, S. V. Somalwar, G. B. Thomson, Y. Zou, A. R. Barker, R. A. Briere, E. Cheu, D. A. Harris, G. Makoff, K. S. McFarland, A. Roodman, B. Schwingenheuer, Y. W. Wah, B. WinsteinR. Winston, E. C. Swallow, G. J. Bock, R. Coleman, M. Crisler, J. Enagonio, R. Ford, Y. B. Hsiung, D. A. Jensen, E. Ramberg, R. Tschirhart, T. Yamanaka, E. M. Collins, G. D. GollinShow 14 othersShow less