Measurement of the absolute branching fraction of Ds+→τ+ντ decay

K. M. Ecklund, W. Love, V. Savinov, A. Lopez, H. Mendez, J. Ramirez, J. Y. Ge, D. H. Miller, I. P.J. Shipsey, B. Xin, G. S. Adams, M. Anderson, J. P. Cummings, I. Danko, D. Hu, B. Moziak, J. Napolitano, Q. He, J. Insler, H. MuramatsuC. S. Park, E. H. Thorndike, F. Yang, M. Artuso, S. Blusk, S. Khalil, J. Li, R. Mountain, S. Nisar, K. Randrianarivony, N. Sultana, T. Skwarnicki, S. Stone, J. C. Wang, L. M. Zhang, G. Bonvicini, D. Cinabro, M. Dubrovin, A. Lincoln, J. Rademacker, D. M. Asner, K. W. Edwards, P. Naik, J. Reed, R. A. Briere, T. Ferguson, G. Tatishvili, H. Vogel, M. E. Watkins, J. L. Rosner, J. P. Alexander, D. G. Cassel, J. E. Duboscq, R. Ehrlich, L. Fields, L. Gibbons, R. Gray, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, D. Hertz, C. D. Jones, J. Kandaswamy, D. L. Kreinick, V. E. Kuznetsov, H. Mahlke-Krüger, D. Mohapatra, P. U.E. Onyisi, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Ryd, A. J. Sadoff, X. Shi, S. Stroiney, W. M. Sun, T. Wilksen, S. B. Athar, R. Patel, J. Yelton, P. Rubin, B. I. Eisenstein, I. Karliner, S. Mehrabyan, N. Lowrey, M. Selen, E. J. White, J. Wiss, R. E. Mitchell, M. R. Shepherd, D. Besson, T. K. Pedlar, D. Cronin-Hennessy, K. Y. Gao, J. Hietala, Y. Kubota, T. Klein, B. W. Lang, R. Poling, A. W. Scott, P. Zweber, S. Dobbs, Z. Metreveli, K. K. Seth, A. Tomaradze, J. Libby, A. Powell, G. Wilkinson

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the absolute branching fraction of Ds+→τ+ντ decay'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases