Measurement of bottom quark production in 1.8 TeV pp̄ collisions using muons from b-quark decays

F. Abe, M. Albrow, D. Amidei, C. Anway-Wiese, G. Apollinari, M. Atac, P. Auchincloss, P. Azzi, N. Bacchetta, A. R. Baden, W. Badgett, M. W. Bailey, A. Bamberger, P. De Barbaro, A. Barbaro-Galtieri, V. E. Barnes, B. A. Barnett, G. Bauer, T. Baumann, F. BedeschiS. Behrends, S. Belforte, G. Bellettini, J. Bellinger, D. Benjamin, J. Benlloch, J. Bensinger, A. Beretvas, J. P. Berge, S. Bertolucci, K. Biery, S. Bhadra, M. Binkley, D. Bisello, R. Blair, C. Blocker, A. Bodek, V. Bolognesi, A. W. Booth, C. Boswell, G. Brandenburg, D. Brown, E. Buckley-Geer, H. S. Budd, G. Busetto, A. Byon-Wagner, K. L. Byrum, C. Campagnari, M. Campbell, A. Caner, R. Carey, W. Carithers, D. Carlsmith, J. T. Carroll, R. Cashmore, A. Castro, Y. Cen, F. Cervelli, K. Chadwick, J. Chapman, G. Chiarelli, W. Chinowsky, S. Cihangir, A. G. Clark, M. Cobal, D. Connor, M. Contreras, J. Cooper, M. Cordelli, D. Crane, J. D. Cunningham, C. Day, F. Dejongh, S. Dell'Agnello, M. Dell'Orso, L. Demortier, B. Denby, P. F. Derwent, T. Devlin, D. Dibitonto, M. Dickson, R. B. Drucker, A. Dunn, K. Einsweiler, J. E. Elias, R. Ely, S. Eno, S. Errede, A. Etchegoyen, B. Farhat, M. Frautschi, G. J. Feldman, B. Flaugher, G. W. Foster, M. Franklin, J. Freeman, H. Frisch, T. Fuess, Y. Fukui, A. F. Garfinkel, A. Gauthier, S. Geer, D. W. Gerdes, P. Giannetti, N. Giokaris, P. Giromini, L. Gladney, M. Gold, J. Gonzalez, K. Goulianos, H. Grassmann, G. M. Grieco, R. Grindley, C. Grosso-Pilcher, C. Haber, S. R. Hahn, R. Handler, K. Hara, B. Harral, R. M. Harris, S. A. Hauger, J. Hauser, C. Hawk, T. Hessing, R. Hollebeek, L. Holloway, A. Hölscher, S. Hong, G. Houk, P. Hu, B. Hubbard, B. T. Huffman, R. Hughes, P. Hurst, J. Huth, J. Hylen, M. Incagli, T. Ino, H. Iso, H. Jensen, C. P. Jessop, R. P. Johnson, U. Joshi, R. W. Kadel, T. Kamon, S. Kanda, D. A. Kardelis, I. Karliner, E. Kearns, L. Keeble, R. Kephart, P. Kesten, R. M. Keup, H. Keutelian, D. Kim, S. B. Kim, S. H. Kim, Y. K. Kim, L. Kirsch, K. Kondo, J. Konigsberg, K. Kordas, E. Kovacs, M. Krasberg, S. E. Kuhlmann, E. Kuns, A. T. Laasanen, S. Lammel, J. I. Lamoureux, T. Lecompte, S. Leone, J. D. Lewis, W. Li, P. Limon, M. Lindgren, T. M. Liss, N. Lockyer, M. Loreti, E. H. Low, D. Lucchesi, C. B. Luchini, P. Lukens, P. Maas, K. Maeshima, M. Mangano, J. P. Marriner, M. Mariotti, R. Markeloff, L. A. Markosky, J. A.J. Matthews, R. Mattingly, P. McIntyre, A. Menzione, E. Meschi, T. Meyer, S. Mikamo, M. Miller, T. Mimashi, S. Miscetti, M. Mishina, S. Miyashita, Y. Morita, S. Moulding, J. Mueller, A. Mukherjee, T. Muller, L. F. Nakae, I. Nakano, C. Nelson, D. Neuberger, C. Newman-Holmes, J. S.T. Ng, M. Ninomiya, L. Nodulman, S. Ogawa, R. Paoletti, V. Papadimitriou, A. Para, E. Pare, S. Park, J. Patrick, G. Pauletta, L. Pescara, T. J. Phillips, A. G. Piacentino, R. Plunkett, L. Pondrom, J. Proudfoot, F. Ptohos, G. Punzi, D. Quarrie, K. Ragan, G. Redlinger, J. Rhoades, M. Roach, F. Rimondi, L. Ristori, W. J. Robertson, T. Rodrigo, T. Rohaly, A. Roodman, W. K. Sakumoto, A. Sansoni, R. D. Sard, A. Savoy-Navarro, V. Scarpine, P. Schlabach, E. E. Schmidt, O. Schneider, M. H. Schub, R. Schwitters, G. Sciacca, A. Scribano, S. Segler, S. Seidel, Y. Seiya, G. Sganos, M. Shapiro, N. M. Shaw, M. Sheaff, M. Shochet, J. Siegrist, A. Sill, P. Sinervo, J. Skarha, K. Sliwa, D. A. Smith, F. D. Snider, L. Song, T. Song, M. Spahn, P. Sphicas, A. Spies, R. St. Denis, L. Stanco, A. Stefanini, G. Sullivan, K. Sumorok, R. L. Swartz, M. Takano, K. Takikawa, S. Tarem, F. Tartarelli, S. Tether, D. Theriot, M. Timko, P. Tipton, S. Tkaczyk, A. Tollestrup, J. Tonnison, W. Trischuk, Y. Tsay, J. Tseng, N. Turini, F. Ukegawa, D. Underwood, S. Vejcik, R. G. Wagner, R. L. Wagner, N. Wainer, R. C. Walker, J. Walsh, A. Warburton, G. Watts, T. Watts, R. Webb, C. Wendt, H. Wenzel, W. C. Wester, T. Westhusing, S. N. White, A. B. Wicklund, E. Wicklund, H. H. Williams, B. L. Winer, J. Wolinski, D. Y. Wu, X. Wu, J. Wyss, A. Yagil, K. Yasuoka, Y. Ye, G. P. Yeh, J. Yoh, M. Yokoyama, J. C. Yun, A. Zanetti, F. Zetti, S. Zhang, W. Zhang, S. ZucchelliShow 311 othersShow less